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PRODUCT

PLM測定装置(特許取得済)

独自の波面分割型干渉系を採用した小型・軽量で耐振動性に優れた、卓上型の干渉計測装置です。 ビーム分割にバイプリズム…

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MTF測定装置

MTF測定装置PDF ファイルのダウンロード 量産MTF検査装置 DSC-E1-WE PDF ファイルのダウンロー…

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異物検査装置 (GPIS) 特許取得済

高感度で高速な異物検査を実現 波長切替方式 特許取得済   特殊な光学系を用いて異物の散乱光を積極的に撮…

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光学設計 Optical design

製造実績1 PLM用顕微鏡対物レンズ(有限補正光学系) 概要:自社の干渉計測装置(PLM)用に開発した顕微鏡対物レ…

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引掻試験機(SCRATCH TESTER)

標準機能で 6枚のワークを一度に TESTERにかける事が可能です。 各シャフトに水準器が装着されておりますので個…

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マクロ検査装置

照射範囲:(1100mm*1300mm)打合せによる メタハラ照明:6000ルックス以上(照射範囲中心部で距離10…

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EdgeCrack Inspection(3面Edge検査装置)

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オリジナルカスタマイズ

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フィルム検査装置 Film Defect Inspection System

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